透過率測(cè)試
VS-Micro透過率測(cè)試儀簡(jiǎn)介：
基于普通透過率測(cè)量?jī)x的測(cè)試原理,增加顯微光路和成像CCD對(duì)測(cè)試區(qū)域進(jìn)行準(zhǔn)確定位，用小尺寸光斑（0.1mm）測(cè)試樣品微小區(qū)域的相/透射率。對(duì)比傳統(tǒng)目鏡對(duì)焦，其采用數(shù)字相機(jī)視頻對(duì)焦更準(zhǔn)確，測(cè)試速度更快。可調(diào)光斑孔徑大小達(dá)到了以前沒有的小尺寸，更好的適應(yīng)了市場(chǎng)上越來越精細(xì)的樣品測(cè)試。專門用于手機(jī)蓋板IR孔、菜單鍵、返回鍵等微小區(qū)域的透過率檢測(cè)。

透過率測(cè)試儀優(yōu)點(diǎn)：

儀器精密小巧，攜帶方便。

測(cè)試速度極快，一秒出結(jié)果，實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品全檢。

極小樣品的透過率檢測(cè)。

優(yōu)異的波長(zhǎng)重復(fù)性達(dá)0.1納米。

高精度的光度測(cè)定。

小化雜散光。

透過率測(cè)試儀軟件特點(diǎn)：

智能化軟件操作:可自定義測(cè)量方式和角度，實(shí)時(shí)顯示測(cè)量樣品關(guān)注波長(zhǎng)位置的透/反射率數(shù)據(jù)，自動(dòng)調(diào)整顯示坐標(biāo)范圍，高效地進(jìn)行批量樣品檢測(cè)及譜圖對(duì)比分析。

譜圖管理:可同時(shí)記錄多達(dá)20個(gè)樣品譜圖，批量保存測(cè)量結(jié)果，記錄譜圖測(cè)試積分時(shí)間，能對(duì)譜圖進(jìn)行更名、定義顏色、選擇是否顯示、加粗等操作，很大程度地方便了譜圖的管理和分析。

自定義測(cè)量方案:用戶可以自行定義測(cè)量的方案，同時(shí)設(shè)置判定標(biāo)準(zhǔn)，使檢測(cè)更快速，結(jié)果更準(zhǔn)確。

譜圖數(shù)據(jù)處理功能:備有豐富的光學(xué)元件數(shù)據(jù)庫(kù)，可根據(jù)數(shù)據(jù)庫(kù)已存標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)對(duì)比分析結(jié)果，用戶可自行對(duì)數(shù)據(jù)庫(kù)進(jìn)行添加、修改和刪除，還可將測(cè)量數(shù)據(jù)導(dǎo)入Excel有利于進(jìn)一步對(duì)譜圖進(jìn)行分析和研究。

CIE顏色測(cè)量功能:可以計(jì)算樣品各種CIE顏色參數(shù)， x，y，L,a,b,飽和度，主波長(zhǎng)等。

數(shù)據(jù)報(bào)告打印功能:可快速批量打印樣品測(cè)量數(shù)據(jù)及譜圖，自定義測(cè)量報(bào)告出具單位名稱。

技術(shù)參數(shù)：